手持ちの27C256のROMが読めたり読み誤りしたり不安定だったのはZIFソケットのコンタクト部分が長年放置されていたため酸化膜が出来て接触抵抗が高くなっていたためだった。

ソケット基板だけを取り外してROMを挿してロックした状態でROMのリードピンと基板側のZIFソケットをハンダ付けしてある部分との間の抵抗値をテスターで測定してみた結果、特定の位置に固定する時を除いては抵抗値が異常に高くほとんど導通が無いピンも出てくることが判明。特定の位置だと全ピン数Ω程度の良好な状態となりその状態であればROMは読み出せる。

外から見ただけではROMのリードピンは全部しっかりZIFソケットにくわえ込まれているように見えるが。実はそっとコンタクトを押しつけているだけでしっかり掴み込んでいるわけではない。

別のROMだと99.9%読めない。微妙にリードピンの曲がりぐあいとかでロックレバーを倒すと微妙にROMの向きが変わったりする。

読めないROMを同様にソケットに装着した状態で導通抵抗を測定すると驚くことにまったく導通していないピンが多数あることが判明。こうもROMによって違いが出るものなのだろうか。

ZIFソケット側のコンタクトに酸化膜が出来ているに違いないと、ROMのリードピンを押さえつける方のコンタクト表面をしごいて酸化膜を削り落とす作戦に出てみた。

すると以前はある決まった位置でロックしないと読めなかった片方のROMは100%近くソケットに収まった時に偏った位置でも読めるようになった。

しかしもう片方の正常に読めない方は、以前は位置によっては誤りが多いものの読めていたのが、全く読めなくなり、しかもピン間ショートをしているという表示が常に出るようになってしまった。

このROMは別のROMライターでは問題無く読めるのでソケットとの相性というか、ソケット側が酷使されてくたびれているために接触が悪いからかもしれない。

もともとZIFソケット(登録商標TEXTOOL)は劣化する部分だけ交換できるようになっている。秋葉原とかで普通に売っているのでそれを買ってきて上側だけ交換すればよいことになる。

EEPROMが耐用書き換え回数を超えるまで使われたロムライターなのでTEXTOOLもいいかげんくたびれているに違いない。接触が悪くてまれに読み誤りや書き誤りが生じたら目もあてられないので、消耗品と考えて早めに交換したほうが良いかもしれない。

それとデバイスIDは自動識別できるものであれば現在設定されているデバイスIDが異なっていてもオペレーション時に自動識別をし一時的に対応するデバイスIDでオペレーションが実行されることを確認。良くできている。

来月になったらEEPROMとTEXTOOLを手にいれて交換してみよう。